反射率检测仪——广州景颐光电科技有限公司是专门做反射率检测仪的公司
硅片反射率检测仪
硅片又称晶圆片，是由硅锭加工而成的，通过专门的工艺可以在硅片上刻蚀出数以百万计的晶体管，被广泛应用于集成电路的制造。
景颐光电反射率检测仪是一套全波长380nm-1000nm的光谱分析仪，能快速准确地测量硅片的反射率。
景颐光电反射率检测系统采用积分球8°角测试方法，测定时间短，单次测试时间1秒内。可以用于测量物体的反射率、反射率颜色和化学样品中的成分信息，是为涂料、颜料、油墨、平面样品、硅片、镀膜表面、镜面铝镜、油漆、塑料、布料等化工行业贯彻执行标准，该仪器完全符合各项标准。
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反射率测量仪注意事项
镜片反射率测量仪采用了高灵敏的光电转换装置，使用时要保证本仪器的光学、电路部分不受外界环境影响。吸附在探头中透光玻璃上的灰尘或水汽会影响测量读数，要用镜布及时擦净。
1、为保证测量精度，测量环境温度应接近25°C。仪器应经常校准，允许偏差为±0.3，若大于0.3需要新校准。
2、为克服硅光电池的光照疲劳现象，在测试的间隙时间内应将探头放在黑色标准板上面。
3、白色标准版应远离污染，否则会影响测量精度。如有污渍可用绘图橡皮除净。
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膜厚仪在测试时为了保证测量的准确性，进行测试时要注意使用当中存在的各种小细节，这样才能保证仪器的测量数据的度。
膜厚仪常用于工业生产中用来连续或者抽样测量产品的厚度。为了保证测量的准确性，在进行测试的时候，我们需要注意哪些地方呢？
首先，在测量前确保待测物表面上没有任何的附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等。还要注意周围其他电器设备不会产生磁场，否则就会干扰到磁性测厚法。
测试时，如果待测物基体是金属的，应用铁基调零板进行调零。测试中，测头与待测物表面要保持垂直。注意待测物的曲率对测量的影响。不要在弯曲的待测物表面上测量时。同时保持压力的恒定，不然会影响整体的测量结果。
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